航天科工二院物理特征分析技术获国家发明专利

近日，中国航天科工集团公司二院201所失效分析研究室 “半导体器件物理特征分析方法”发明通过了国家专利局的最终审核，被授予国家发明专利，标志着201所在仿冒翻新元器件鉴别分析技术领域走在了行业前列，并掌握了核心技术的话语权。

“半导体器件物理特征分析方法”(即PFA)的形成源于失效分析研究室早在2008年即开始关注的进口半导体器件仿冒翻新问题。随着电子和信息技术的快速发展，包括半导体器件在内的电子元器件更新换代周期变短，导致元器件用户的供应链管理出现困难，即原设计使用的元器件可能已经停产，特别是对元器件用量少、品种多、可靠性要求高的部件或整机厂家而言，由于采购量小且必须通过代理商进行采购，因此给仿冒翻新器件提供了进入产业链的机会。如进入军品供应链，则将严重影响装备的质量与可靠性。因此，鉴别所购元器件特别是进口半导体器件是否为防冒翻新产品是军品检验不可或缺的重要环节。

失效分析研究室经过4年时间的检测分析经验积累，利用2年(2012-2013年)时间对进口器件仿冒翻新识别技术进行了集中研发和攻关。2013年中旬转化为实际技术成果，并首创了“半导体器件物理特征分析”(PFA)这一技术名词，编写了相应的标准，随即进行了专利申请。2014年，PFA已正式成为二院型号进口元器件质量保证流程中的最前道环节。

本次专利申请的获批也有助于军品元器件检测分析技术向民品领域的拓展推广，未来元器件物理特征分析技术有望涉足船舶、汽车、高铁等高可靠工业电子领域，以及涉及元器件采购合同纠纷的司法鉴定领域。